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X射線檢查是一種非破壞性檢查方法，該方法使用X射線穿透材料并在材料中具有衰減特性以查找工件中的缺陷。
經(jīng)過與原始膠片X射線照相技術(shù)近100年的發(fā)展，X射線檢查技術(shù)已經(jīng)形成了由X射線攝影，X射線實(shí)時(shí)成像，X射線斷層攝影等組成的相對(duì)完整的X射線檢查技術(shù)體系。
根據(jù)獲取工件檢查圖像的方法不同，X射線檢查技術(shù)分為X射線攝影檢查技術(shù)和數(shù)字射線照相檢查技術(shù)。 X射線射線照相檢查技術(shù)發(fā)展歷史悠久，技術(shù)成熟，應(yīng)用廣泛，為其他射線照相檢查技術(shù)的發(fā)展奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)主要包括X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)，X射線斷層攝影CT成像檢測(cè)技術(shù)，X射線顯微CT成像技術(shù)，X射線錐束CT三維成像檢測(cè)技術(shù)和背向散射技術(shù)（ CBS）等。
X射線照相檢查技術(shù)是最傳統(tǒng)的無損檢查技術(shù)之一，并已廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。它的主要優(yōu)點(diǎn)是對(duì)工件中的夾雜物，氣孔和密度分布不均等體積缺陷有好處。檢測(cè)效果直觀，檢測(cè)結(jié)果靈敏度高。然而，檢測(cè)分層缺陷相對(duì)困難，并且處理步驟麻煩且處理復(fù)雜，不僅成本高，而且還會(huì)產(chǎn)生污染物。
X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)是一種數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)。它使用檢測(cè)器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的X射線膠片，不僅具有更快的成像速度和更高的成像質(zhì)量，而且不需要沖洗，顯影和定影等操作過程。減少化學(xué)藥品的消耗，使價(jià)格更低，更經(jīng)濟(jì)，更環(huán)保。X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)具有高分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍，可以檢測(cè)密度較差或厚度差較大的工件，還可以進(jìn)行實(shí)時(shí)在線檢測(cè)。然而，X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)與傳統(tǒng)的X射線攝影檢測(cè)技術(shù)相同，所獲得的檢測(cè)圖像為二維投影圖，存在信息疊加的問題。
通過X射線CT成像檢查技術(shù)獲得的檢查圖像是二維斷層圖像，對(duì)應(yīng)于工件材料，結(jié)構(gòu)，成分和密度的特征。同時(shí)，可以進(jìn)行三維重建以獲得被檢工件的三維圖。沒有信息疊加問題。檢測(cè)圖像是數(shù)字化的結(jié)果，可以直接獲取CT值和像素大小等信息，并且數(shù)字化后的圖像便于存儲(chǔ)，傳輸，分析和處理。它具有高空間和密度分辨率，高動(dòng)態(tài)范圍和可靠性。隨著高能工業(yè)CT系統(tǒng)的發(fā)展，具有足夠的穿透能量，被檢查工件的幾何形狀將不受限制。 X射線CT成像檢測(cè)技術(shù)適用于多種缺陷的檢測(cè)。
X射線微CT成像檢測(cè)技術(shù)是一種新的檢測(cè)技術(shù)，它使用X射線成像原理執(zhí)行高分辨率的三維成像。它可以用來測(cè)量孔隙率和孔徑。
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，X射線檢測(cè)技術(shù)不僅具有靈敏度高，分辨率高，動(dòng)態(tài)范圍大，圖像質(zhì)量好等一系列特點(diǎn)，還適用于大多數(shù)缺陷，材料密度不均，材料檢測(cè)和逆向工程中廣泛使用，是目前工業(yè)領(lǐng)域中使用最廣泛的無損檢測(cè)方法。
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